超級電容器具有非常高的電阻值，但仍然存在漏電流產生。這種漏電流可以視為將超級電容器維持在規定電壓值所需的充電電流。然而，漏電流的測量結果會受到溫度、器件充電電壓及其老化條件的影響。在額定直流電壓和室溫下，大多數超級電容器數據表都會顯示漏電流性能，例如AVX 1的SCC系列超級電容器。

為了測量漏電流，我們可以使用電阻和內阻阻抗較高的萬用表進行測試。首先，我們將超級電容器的額定電壓在常溫（25°）下充電72小時。然后，斷開開關SW（約10分鐘），讓超級電容器的溫度和內部結構穩定。接著，合上開關，用一個內阻阻抗較高的萬用表測量電阻（電阻值已知，便于計算）兩端的電壓。最后，我們可以通過公式漏電流DCL = V/R計算出漏電流的值。

需要注意的是，漏電流的值會隨著溫度、充電電壓和器件的老化條件的變化而變化因。此，在測試過程中需要保持穩定的溫度和充電電壓，并使用已知的電阻值進行計算。此外，對于不同的超級電容器型號和規格，其漏電流性能也會有所不同，因此需要根據具體的器件規格和數據表進行測量和計算。
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